H. Kobayashi: "Deperdence of Interface State Spactra for Ultrathin SiO_2/Si Interfaces on the Oxide atominc, density determined from FT-IR measuremonts" Surface Science. 印刷中. (1999)
H. Kobayashi: "Deperdence of Interface State Spactra for Ultrathin SiO_2/Si Interfaces on the Oxide atominc, density determined from FT-IR measuremonts" Surface Science. 印刷中. (1999)
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H. Kobayashi：“超薄 SiO_2/Si 界面的界面态 Spactra 对氧化物原子的依赖性，通过 FT-IR 测量确定的密度”，《表面科学》出版。
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