Evaluation of Radiation Hardness for Nitride Semiconductor Samples
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氮化物半导体样品的辐射硬度评估
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
et al
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S.Narita;et al
