Sketch Matching on Topology Product Graph
Sketch Matching on Topology Product Graph
复制标题
拓扑积图的草图匹配
DOI：
10.1109/tpami.2014.2369031
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发表时间：
2015-08
影响因子：
23.6
通讯作者：
Yichen Wei
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Shuang Liang;Jun Luo;Wenyin Liu;Yichen Wei
草图匹配是基于草图界面的基本问题。经过多年的研究，当手绘草图形状存在较大的不规则性和变化时，仍然具有挑战性。虽然大多数现有的作品利用拓扑关系和图形表示这个问题，他们通常是有限的粗糙的拓扑探索和启发式（因此次优）之间的相似性度量图。我们提出了一种新的草图匹配方法，有两个新的贡献。我们引入了一个全面的定义的拓扑关系，这导致在一个丰富的和翔实的图形表示的草图。对于图匹配，我们提出了拓扑积图，它保持了两个图匹配的完全对应关系。在此基础上，我们推导出一个直观的草图相似性度量，其精确解易于计算。此外，图表示和新的度量自然支持部分匹配，一个重要的实际问题，在文献中得到较少的关注。在一个真实的挑战性数据集上的大量实验结果和我们方法的上级性能表明，它优于最先进的。
Sketch matching is the fundamental problem in sketch based interfaces. After years of study, it remains challenging when there exists large irregularity and variations in the hand drawn sketch shapes. While most existing works exploit topology relations and graph representations for this problem, they are usually limited by the coarse topology exploration and heuristic (thus suboptimal) similarity metrics between graphs. We present a new sketch matching method with two novel contributions. We introduce a comprehensive definition of topology relations, which results in a rich and informative graph representation of sketches. For graph matching, we propose topology product graph that retains the full correspondence for matching two graphs. Based on it, we derive an intuitive sketch similarity metric whose exact solution is easy to compute. In addition, the graph representation and new metric naturally support partial matching, an important practical problem that received less attention in the literature. Extensive experimental results on a real challenging dataset and the superior performance of our method show that it outperforms the state-of-the-art.
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DOI：
10.1007/978-0-85729-859-1
发表时间：
2014-05
期刊：
--
影响因子：
--
作者：
D. Doermann;K. Tombre
通讯作者：
D. Doermann;K. Tombre
DOI：
10.1007/1-4020-2721-4_1
发表时间：
2011-04
期刊：
--
影响因子：
--
作者：
B. Ya
通讯作者：
B. Ya
DOI：
--
发表时间：
2001-05
期刊：
--
影响因子：
--
作者：
T. M. Sezgin
通讯作者：
T. M. Sezgin
DOI：
--
发表时间：
2008-02
期刊：
--
影响因子：
--
作者：
Reinier H. van Leuken;Olga Symonova;R. Veltkamp
通讯作者：
Reinier H. van Leuken;Olga Symonova;R. Veltkamp
DOI：
10.1007/978-1-4612-0653-8
发表时间：
1996-11
期刊：
--
影响因子：
--
作者：
R. Bhatia
通讯作者：
R. Bhatia