ALE法を用いて作製したGaAsN薄膜のアニール処理によるN分布と電気特性の関係
ALE法を用いて作製したGaAsN薄膜のアニール処理によるN分布と電気特性の関係
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ALE 法制备的 GaAsN 薄膜退火后 N 分布与电性能的关系
DOI:
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发表时间:
2018
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
鈴木 秀俊
中科院分区:
文献类型:
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作者:
河野 将大;上田 大貴;原口 智宏;鈴木 秀俊