局所ゲート顕微鏡を用いた半導体的CNF-FETの特性評価
局所ゲート顕微鏡を用いた半導体的CNF-FETの特性評価
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使用局域栅显微镜表征半导体 CNF-FET
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
他
中科院分区：
文献类型：
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作者：
沖川侑揮;他
