Charge-trap correction and radiation damage in orthogonal-strip planar germanium detectors
Charge-trap correction and radiation damage in orthogonal-strip planar germanium detectors
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正交带平面锗探测器中的电荷陷阱校正和辐射损伤
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
R. Pehl
中科院分区：
文献类型：
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作者：
E. Hull;E. Jackson;C. Lister;R. Pehl
