Atom manipulation and force measurement by atomic force microscopy
Atom manipulation and force measurement by atomic force microscopy
复制标题
原子力显微镜的原子操纵和力测量
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hideki Tanaka
中科院分区：
文献类型：
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作者：
金 炯濬，野口 裕;合志 憲一;安達 千波矢;石井 久夫;Hideki Tanaka
