電子機器内の近傍放射とノイズ耐力の比較
電子機器内の近傍放射とノイズ耐力の比較
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电子设备附近辐射和噪声耐受度比较
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
渋谷昇
中科院分区：
文献类型：
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作者：
大久保義和;高橋丈博;作左部剛視;渋谷昇
