Tokushi Kizuka and Kazue Hosoi: "In-situ high-resolution transmission electron microscopy of direct bonding processes between silicon tips with oxide surfaces at room"Appl. Phys. Lett.. 75. 1743-1745 (1999)
Tokushi Kizuka and Kazue Hosoi: "In-situ high-resolution transmission electron microscopy of direct bonding processes between silicon tips with oxide surfaces at room"Appl. Phys. Lett.. 75. 1743-1745 (1999)
复制标题
Tokushi Kizuka 和 Kazue Hosoi：“室内硅尖端与氧化物表面之间直接键合过程的原位高分辨率透射电子显微镜”Appl。
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
