S.Yamauchi,M.Hirai,M.Kusaka,M.Iwami,H.Nakamura,S.Minomura,H.Watabe,M.Kawai and H.Soezima: "Nondestructive Depth Profiling Using Soft X-ray Emission Spectroscopy by Incident Angle Variation Method" Jpn.J.Appl.Phys.31. 395-400 (1992)
S.Yamauchi,M.Hirai,M.Kusaka,M.Iwami,H.Nakamura,S.Minomura,H.Watabe,M.Kawai and H.Soezima: "Nondestructive Depth Profiling Using Soft X-ray Emission Spectroscopy by Incident Angle Variation Method" Jpn.J.Appl.Phys.31. 395-400 (1992)
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S.Yamauchi、M.Hirai、M.Kusaka、M.Iwami、H.Nakamura、S.Minomura、H.Watabe、M.Kawai 和 H.Soezima：“通过入射角使用软 X 射线发射光谱进行无损深度分析
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