Observation of negative differential resistance and single-electron tunneling in electromigrated break junctions
Observation of negative differential resistance and single-electron tunneling in electromigrated break junctions
复制标题
电迁移断裂结中负微分电阻和单电子隧道效应的观察
DOI：
--
复制
发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
and T.Nagase
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Y.Noguchi;R.Ueda;T.Kubota;T Kamikado;S.Yokoyama;and T.Nagase
