Electron Channeling X-ray Microanalysis for Site Occupation in β-FeSi_2 Doped with Co
Electron Channeling X-ray Microanalysis for Site Occupation in β-FeSi_2 Doped with Co
复制标题
Co掺杂β-FeSi_2位点的电子通道X射线微分析
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T.Morimura
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T.Morimura
