M.Terauchi: "Detection of characteristic signals from As doped (less than 1 at.%) regions of silicon by transmission electron microscopy and convergent-beam electron diffraction"J.Electron Microscopy. 52・5. 441-448 (2003)
M.Terauchi: "Detection of characteristic signals from As doped (less than 1 at.%) regions of silicon by transmission electron microscopy and convergent-beam electron diffraction"J.Electron Microscopy. 52・5. 441-448 (2003)
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M. Terauchi：“通过透射电子显微镜和会聚束电子衍射检测硅的 As 掺杂（小于 1 at.%）区域的特征信号”J. Electron Microscopy 52・5（2003 年）。
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