Effect of drain current on appearance probability and amplitude of random telegraph noise in low-noise CMOS image sensors
Effect of drain current on appearance probability and amplitude of random telegraph noise in low-noise CMOS image sensors
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低噪声 CMOS 图像传感器中漏极电流对随机电报噪声出现概率和幅度的影响
DOI：
10.7567/jjap.57.04ff08
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发表时间：
2018
影响因子：
1.5
通讯作者：
Sugawa S.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Ichino S.;Mawaki T.;Teramoto A.;Kuroda R.;Rark H.;Wakshima S.;Goto T.;Suwa T.;Sugawa S.
