Structural analysis of the c(4 × 2) reconstruction in Si(0 0 1) and Ge(0 0 1) surfaces by low-energy electron diffraction
Structural analysis of the c(4 × 2) reconstruction in Si(0 0 1) and Ge(0 0 1) surfaces by low-energy electron diffraction
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DOI：
10.1016/j.susc.2005.11.031
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发表时间：
2006-02
期刊：
影响因子：
1.9
通讯作者：
T. Shirasawa;S. Mizuno;H. Tochihara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Shirasawa;S. Mizuno;H. Tochihara
