多結晶YIG薄膜におけるスピンゼーベック電圧と損失定数の相関解明
多結晶YIG薄膜におけるスピンゼーベック電圧と損失定数の相関解明
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阐明多晶 YIG 薄膜中自旋塞贝克电压与损耗常数之间的相关性
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
嶋睦宏
中科院分区：
文献类型：
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作者：
正木信也;山田啓介;黒川雄一郎;塩田陽一;森山貴広;小野輝男;湯浅裕美;嶋睦宏
