Radiation Test Results for Common CubeSat Microcontrollers and Microprocessors

Radiation Test Results for Common CubeSat Microcontrollers and Microprocessors
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常见 CubeSat 微控制器和微处理器的辐射测试结果

DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
Radiation Effects Data Workshop
影响因子：
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通讯作者：
Sergeh Vartanian
Sergeh Vartanian
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
S. Guertin;Mehran Amrbar;Sergeh Vartanian

文献摘要

被引文献

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给出了用于小型卫星系统的微控制器和微处理器的SEL， SEU和TID结果，如TI MSP430F1611， MSP430F1612和MSP430FR5739， Microchip PIC24F256GA110和dsPIC33FJ256GP710， Atmel AT91SAM9G20和Intel Atom E620T，高通骁龙APQ8064。
SEL, SEU, and TID results are presented for microcontrollers and microprocessors of interest for small satellite systems such as the TI MSP430F1611, MSP430F1612 and MSP430FR5739, Microchip PIC24F256GA110 and dsPIC33FJ256GP710, Atmel AT91SAM9G20, and Intel Atom E620T, and the Qualcomm Snapdragon APQ8064.