Rigorous determination of the exchange stiffhess and mangetoscristalline anistropy of thinfilms by analysis of the domain structure at the nucleation
Rigorous determination of the exchange stiffhess and mangetoscristalline anistropy of thinfilms by analysis of the domain structure at the nucleation
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通过分析成核处的域结构严格测定薄膜的交换刚度和磁晶各向异性
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Mattia Mulazzi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
浜下昌宏;ほか;Nigel Ribeiro,前田 仁,石田 康博,小林 由佳,西郷 和彦;真鍋 俊照;ローリ・ミークス;真鍋 俊照;真鍋 俊照;真鍋 俊照;真鍋 俊照;真鍋 俊照 & L.ミークス;百橋 明穂;MEASSON Marie-aude;MEASSON Marie-aude;Mattia Mulazzi
