Yohei Nakano, Hajime Aikyo, Katsuyuki Amanuma, Yukihiko Sato: "Investigation of Fault Device Detection for Three-Phase Voltage Source Inverters"2004 National convention Record, IEE Japan. 4. 82-83 (2004)
Yohei Nakano, Hajime Aikyo, Katsuyuki Amanuma, Yukihiko Sato: "Investigation of Fault Device Detection for Three-Phase Voltage Source Inverters"2004 National convention Record, IEE Japan. 4. 82-83 (2004)
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Yohei Nakano、Hajime Aikyo、Katsuyuki Amanuma、Yukihiko Sato：“三相电压源逆变器故障设备检测的研究”2004 年全国大会记录，IEE 日本。
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