L.A.Nagahara: "Mica Etch Pits as a Height Calibration Source for Atomic Force Microscopy" J.Vac.Sci.Technol.B. 12. 1694-1697 (1994)
L.A.Nagahara: "Mica Etch Pits as a Height Calibration Source for Atomic Force Microscopy" J.Vac.Sci.Technol.B. 12. 1694-1697 (1994)
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L.A.Nagahara：“云母蚀刻坑作为原子力显微镜的高度校准源”J.Vac.Sci.Technol.B。
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