高密度CMOSアレイ上の培養神経回路の神経雪崩現象の発達過程
高密度CMOSアレイ上の培養神経回路の神経雪崩現象の発達過程
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高密度CMOS阵列培养神经回路中神经雪崩现象的发展过程
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
眞田章広，矢田祐一郎，三田毅，矢野隆一，神﨑亮平，高橋宏知
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Wiroj Sudatham;Hirokazu Matsumoto;Satoru Takahashi;Kiyoshi Takamasu;眞田章広，矢田祐一郎，三田毅，矢野隆一，神﨑亮平，高橋宏知
