Hitoshi UCHIDA: "Electrochemical Evaluation of Pinhole Defects in TiN Fims Prepared by r. f. Reactive Sputtering" Proc. of the 11th Int′l Conf. on the Strength of Materials. (1997)
Hitoshi UCHIDA: "Electrochemical Evaluation of Pinhole Defects in TiN Fims Prepared by r. f. Reactive Sputtering" Proc. of the 11th Int′l Conf. on the Strength of Materials. (1997)
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Hitoshi UCHIDA：“通过 r.f. 反应溅射制备的 TiN 薄膜中针孔缺陷的电化学评估”第 11 届材料强度国际会议论文集。
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