Generating small test sets for test compression/decompression scheme using statistical coding
Generating small test sets for test compression/decompression scheme using statistical coding
复制标题
使用统计编码生成用于测试压缩/解压缩方案的小型测试集
DOI：
10.1109/delta.2002.994658
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发表时间：
2002
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Tomoo Inoue
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. Ichihara;Tomoo Inoue
为了降低测试申请成本，提出了使用统计编码的测试压缩/解压缩方案，以进行设计（DFT）。在此方案中，给定的VLSI电路的测试集通过统计编码提前压缩，然后在测试VLSI电路时进行解压缩。以前，我们提出了一种用于生成适合测试压缩方案的测试集的方法。该方法生成一个小的压缩测试集，尽管测试集中包含的测试模式的数量并不总是很小。在本文中，我们提出了一种生成高度可压缩测试集的方法，同时保持生成的测试集数量较小。实验结果表明，我们的方法可以在短的计算时间内生成较小的可压缩测试集。
A test compression/decompression scheme using statistical coding is proposed for design-for-testability (DFT) in order to reduce test application cost. In this scheme, a given test set of a VLSI circuit is compressed by statistical coding beforehand, and then decompressed while the VLSI circuit is tested. Previously, we proposed a method for generating test sets suitable for the test compression scheme. The method generates a small compressed test set, although the number of test-patterns included in the test set is not always small. In this paper, we propose a method to generate highly compressible test sets while keeping the number of generated test sets small. Experimental results show that our method can generate small, compressible test sets in short computational time.