CMOS vs. CCD sensors in speckle interferometry
CMOS vs. CCD sensors in speckle interferometry
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DOI：
10.1016/s0030-3992(03)00078-1
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发表时间：
2003-11-01
影响因子：
5
通讯作者：
Schellenberg, M
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Helmers, H;Schellenberg, M
在干涉测量领域，使用1024 × 1024到2048 × 2048像素的高分辨率CCD传感器占主导地位。由于特殊的功能（例如随机像素访问，特性曲线），具有类似分辨率的CMOS传感器可以是一个有趣的替代方案。我们比较了两种传感器类型的一些特性，这些特性对干涉测量很重要，并展示了两种只有使用CMOS相机才能实现的示例应用。(C) 2003 Elsevier Ltd.版权所有。
In the field of interferometric metrology the use of high resolution CCD sensors with 1024 x 1024 to 2048 x 2048 pixels is predominant. Due to special features (e.g. random pixel access, characteristic curve) CMOS sensors with similar resolution can be an interesting alternative. We compare some characteristics of both sensor types that are important for interferometry and demonstrate two exemplary applications that are only possible by using CMOS cameras. (C) 2003 Elsevier Ltd. All rights reserved.