Okada, H., Yamaoka, K., Onodera, H.: "A Statistical Gate Delay Model for Intra-chip and Inter-chip Variabilities"IEEE/ACM ASP-DAC. 31-36 (2003)
Okada, H., Yamaoka, K., Onodera, H.: "A Statistical Gate Delay Model for Intra-chip and Inter-chip Variabilities"IEEE/ACM ASP-DAC. 31-36 (2003)
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Okada, H.、Yamaoka, K.、Onodera, H.：“芯片内和芯片间变异的统计门延迟模型”IEEE/ACM ASP-DAC。
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