Controlling the sharpness of metal-insulator transition in epitaxial (La1-xPrx)0.67Ca0.33MnO3 (0 ≤ x ≤ 0.35) films
Controlling the sharpness of metal-insulator transition in epitaxial (La1-xPrx)0.67Ca0.33MnO3 (0 ≤ x ≤ 0.35) films
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控制外延 (La1-xPrx)0.67Ca0.33MnO3 (0 ≤ x ≤ 0.35) 薄膜中金属-绝缘体转变的锐度
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
B. W.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
P. F. Chen;Z. Huang;X. L. Tan;B. B. Chen;B. W.
