Capacitance spectroscopy study of midgap levels in n-type SiC polytypes
Capacitance spectroscopy study of midgap levels in n-type SiC polytypes
复制标题
n型SiC多型体中能级的电容谱研究
DOI：
--
复制
发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
and T. Kimoto
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
G. Alfieri;and T. Kimoto
