J.L.Lee,L.Wei,S.Tanigawa,H.Oigawa and Y.Nannichi: "The effect of surface oxides on the creation of point defects in GaAs studied by slow positron beam" Jpm.J.Appl.Phys.30. L138-L140 (1991)

J.L.Lee,L.Wei,S.Tanigawa,H.Oigawa and Y.Nannichi: "The effect of surface oxides on the creation of point defects in GaAs studied by slow positron beam" Jpm.J.Appl.Phys.30. L138-L140 (1991)
复制标题

J.L.Lee、L.Wei、S.Tanikawa、H.Oikawa 和 Y.Nannichi:“通过慢正电子束研究表面氧化物对 GaAs 中点缺陷产生的影响”Jpm.J.Appl.Phys.30。

DOI:
--
复制
发表时间:
--
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
--
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:

文献摘要

相似文献