Large Scale Test Circuits for High Speed and Highly Accurate Evaluation of Variability and Noise of MOSFETs' Electrical Characteristics
Large Scale Test Circuits for High Speed and Highly Accurate Evaluation of Variability and Noise of MOSFETs' Electrical Characteristics
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用于高速、高精度评估 MOSFET 电气特性变化和噪声的大规模测试电路
DOI：
10.1143/jjap.50.106701
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发表时间：
2011
影响因子：
1.5
通讯作者：
Yuki Kumagai
中科院分区：
文献类型：
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作者：
石原知明;荻野要介;澤田恵介;丹野英幸;Yuki Kumagai
