Time-resolved measurements by Kelvin probe force microscopy with intermittent bias application
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使用间歇偏置应用的开尔文探针力显微镜进行时间分辨测量
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Takuji Takahashi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Ryota Ishibashi;Takuji Takahashi
