K.Kuroda: "Application of focused ion beam analling to cross-sectional TEM specimenpreparation of industried materials" Thin Solid Films. 319. 92-96 (1998)
K.Kuroda: "Application of focused ion beam analling to cross-sectional TEM specimenpreparation of industried materials" Thin Solid Films. 319. 92-96 (1998)
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K.Kuroda：“聚焦离子束分析在工业材料横截面 TEM 样品制备中的应用”固体薄膜。
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