Suppression of spurious response in ultrasonic atomic force microscopy and quantitative analysis of lateral bending mode
Suppression of spurious response in ultrasonic atomic force microscopy and quantitative analysis of lateral bending mode
复制标题
超声原子力显微镜杂散响应的抑制及横向弯曲模式的定量分析
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Kazushi Ymanaka
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Toshihiro Tsuji;Kentaro Kobari;Seishiro Ide;Kazushi Ymanaka
