2次元相補系列を用いた電子透かしの回転攻撃耐性
2次元相補系列を用いた電子透かしの回転攻撃耐性
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二维互补序列数字水印的抗旋转攻击
DOI:
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发表时间:
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期刊:
影响因子:
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通讯作者:
貞末克也,松元隆博,鳥井秀幸,小嶋徹也,松藤信哉
中科院分区:
文献类型:
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作者:
Tetsuya Kojima;Ryusuke Mayuzumi and Naoki Ohtani;高橋弘樹・大幢勝利・高梨成次;本多 潔;YUTAKA Takashina;貞末克也,松元隆博,鳥井秀幸,小嶋徹也,松藤信哉