A.Usami,Y.Fujii,H.Fujiwara,T.Sone and T.Wada: "AUTOMATIC DETERMINATION OF INーDEPTH POFILES OF RECOMBINATION LIFETIME IN EPITAXIAL Si LAYER WITH P^+ーN^-ーN^+ STRIPE TEST PATTERN DIODES" Mat.Res.Soc.Symp.Proc.225. 265-270 (1991)
A.Usami,Y.Fujii,H.Fujiwara,T.Sone and T.Wada: "AUTOMATIC DETERMINATION OF INーDEPTH POFILES OF RECOMBINATION LIFETIME IN EPITAXIAL Si LAYER WITH P^+ーN^-ーN^+ STRIPE TEST PATTERN DIODES" Mat.Res.Soc.Symp.Proc.225. 265-270 (1991)
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A.Usami、Y.Fujii、H.Fujiwara、T.Sone 和 T.Wada：“使用 P^+－N^-－N^+ 条纹测试模式自动确定外延硅层复合寿命的深度曲线二极管”Mat.Res.Soc.Symp.Proc.225.265-270 (1991)
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