Genuine n-wise Measurement Incompatibility and Device Independent Certificates of Incompatibility
Genuine n-wise Measurement Incompatibility and Device Independent Certificates of Incompatibility
复制标题
真正的 n-wise 测量不兼容性和设备独立的不兼容性证书
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Marco Tulio Quintino
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Jessica Bavaresco;Mateus Arajo;Caslav Brukner;Marco Tulio Quintino;Marco Tulio Quintino
