Characterization of C60 Nano-Whiskers by Atomic Force Microscopy
Characterization of C60 Nano-Whiskers by Atomic Force Microscopy
复制标题
通过原子力显微镜表征 C60 纳米晶须
DOI：
--
复制
发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
and K.Miyazawa
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
D.Fujita,M.Xu,K.Onishi;and K.Miyazawa
