Freeze-fracture-etching electron microscopy for facile analysis of yeast ultrastructure
Freeze-fracture-etching electron microscopy for facile analysis of yeast ultrastructure
复制标题
冷冻断裂蚀刻电子显微镜可轻松分析酵母超微结构
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Tsuji;T.;and Fujimoto;T
影响因子：
7.7
作者：
Tsuji, Takuma;Fujimoto, Megumi;Fujimoto, Toyoshi
通讯作者：
Fujimoto, Toyoshi