Low probability breakdown voltage estimation for the new step-up test method

Low probability breakdown voltage estimation for the new step-up test method
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新升压测试方法的低概率击穿电压估计

DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
Proceedings of the Institute of Statistical Mathematics 52
影响因子：
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通讯作者：
H.Hirose
H.Hirose
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
Guo;Peijun;Katsuhiko Takahashi;Guo Peijun;H.Hirose

文献摘要

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