Characterization of strain in annealed Cu—Ni multilayers using X-ray diffraction
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DOI：
10.1023/a:1004381226461
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发表时间：
1998
影响因子：
4.5
通讯作者：
J. Chaudhuri;K. Low;A. Jankowski
中科院分区：
文献类型：
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作者：
J. Chaudhuri;K. Low;A. Jankowski
