しきい光電子源を用いた超低エネルギー電子-CH4, NH3衝突全断面積の測定
しきい光電子源を用いた超低エネルギー電子-CH4, NH3衝突全断面積の測定
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使用阈值光电子源测量超低能电子-CH4、NH3 碰撞的总截面
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
小田切丈，星野正光
中科院分区：
文献类型：
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作者：
江尻智一，奥村拓馬，伊藤大智，穂坂綱一，北島昌史;小田切丈，星野正光
