K.Nishikawa et al.: "Thickness dependence of surface topography and crystal growth of MBE-grown Pt films studied by STM/AFM and RHEED" Proc.13rd Int.Congress on Electron Microscopy. 13. 565-566 (1994)
K.Nishikawa et al.: "Thickness dependence of surface topography and crystal growth of MBE-grown Pt films studied by STM/AFM and RHEED" Proc.13rd Int.Congress on Electron Microscopy. 13. 565-566 (1994)
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K.Nishikawa 等人：“通过 STM/AFM 和 RHEED 研究 MBE 生长的 Pt 薄膜的表面形貌和晶体生长的厚度依赖性”Proc.13rd Int.Congress on Electron Microscopy。
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