Probe Microscopy analysis of neuromorphic resistive memory functions of amorphous oxide semiconductors
Probe Microscopy analysis of neuromorphic resistive memory functions of amorphous oxide semiconductors
复制标题
非晶氧化物半导体神经形态电阻记忆功能的探针显微镜分析
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Yasuo Takahashi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Atsushi Tsurumaki-Fukuchi;Takayoshi Katase;Hiromichi Ohta;Masashi Arita;Yasuo Takahashi
