S.Wei, et al.: "Local Structures of Isovalent and Heterovalent Dilute Impurities in Si Crystal Probed by Fluorescence X-ray Absorption Fine Structure." Journal of Applied Physics. 82. 4810-4815 (1997)
S.Wei, et al.: "Local Structures of Isovalent and Heterovalent Dilute Impurities in Si Crystal Probed by Fluorescence X-ray Absorption Fine Structure." Journal of Applied Physics. 82. 4810-4815 (1997)
复制标题
S.Wei 等人：“通过荧光 X 射线吸收精细结构探测硅晶体中等价和异价稀释杂质的局部结构”。
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
