Layer-thickness dependence of the compositions in strained III–V superlattices by atom probe tomography
Layer-thickness dependence of the compositions in strained III–V superlattices by atom probe tomography
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通过原子探针断层扫描研究应变 III–V 超晶格中成分的层厚依赖性
DOI:
10.1016/j.jcrysgro.2020.125550
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发表时间:
2020
影响因子:
1.8
通讯作者:
Mawst, L.J.
中科院分区:
文献类型:
--
作者:
Knipfer, B.;Rajeev, A.;Isheim, D.;Kirch, J.D.;Babcock, S.E.;Kuech, T.F.;Earles, T.;Botez, D.;Mawst, L.J.
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DOI:
--
发表时间:
2012
期刊:
影响因子:
--
作者:
J. Shin;L. Mawst;D. Botez
通讯作者:
D. Botez
影响因子:
2.7
作者:
A. Rajeev;Weixin Chen;J. Kirch;S. Babcock;T. Kuech;T. Earles;L. Mawst
通讯作者:
L. Mawst
DOI:
10.1136/ebmh.11.4.102
发表时间:
2008-10
期刊:
Evidence Based Mental Health
影响因子:
--
作者:
P. Cochat;L. Vaucoret;J. Sarles
通讯作者:
P. Cochat;L. Vaucoret;J. Sarles
影响因子:
4.9
作者:
D. Botez;J. Shin;J. Kirch;Chun;L. Mawst;T. Earles
通讯作者:
T. Earles
DOI:
--
发表时间:
2012
期刊:
Conference on Lasers and Electro-Optics
影响因子:
--
作者:
J. Kirch;C. Chang;J. Shin;L. Mawst;D. Botez;T. Earles
通讯作者:
T. Earles