Nanoscale CMOS: Innovative Materials, Modeling and Characterization
Nanoscale CMOS: Innovative Materials, Modeling and Characterization
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纳米级 CMOS：创新材料、建模和表征
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Balestra, Francis
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Balestra, Francis
