Structural studies on TlInSe2 thermoelectric material by x-ray diffraction, XAFS, and x-ray fluorescence holography

Structural studies on TlInSe2 thermoelectric material by x-ray diffraction, XAFS, and x-ray fluorescence holography
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X射线衍射、XAFS和X射线荧光全息技术对TlInSe2热电材料的结构研究

DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
and N. Mamedov
and N. Mamedov
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
S. Hosokawa;K. Kamimura;N. Happo;K. Mimura;K. Hayashi;K. Takahashi;K. Wakita;and N. Mamedov

文献摘要

参考文献

被引文献

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发表时间： 2008
期刊： Japanese Journal of Applied Physics
影响因子： 1.5
作者：
K. Mimura;T. Nogami;K. Abe;K. Wakita;M. Arita;N. Mamedov;G. Orudzhev;H. Namatame;M. Taniguchi;Y. Taguchi;K. Ichikawa
通讯作者： K. Ichikawa