Efficient Rare Failure Analysis Over Multiple Corners via Correlated Bayesian Inference
Efficient Rare Failure Analysis Over Multiple Corners via Correlated Bayesian Inference
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通过相关贝叶斯推理对多个角进行高效的罕见故障分析
DOI：
10.1109/tcad.2019.2949524
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发表时间：
2020-10
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Xin Li
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Zhengqi Gao;Jun Tao;Yangfeng Su;Dian Zhou;Xuan Zeng;Xin Li
在这篇文章中，我们提出了一个有效的相关贝叶斯推理（CBI）方法来估计多个工艺角的大规模电路系统的系统级故障率。其核心思想是将电路性能的相关性在不同的角落编码成几个精心定义的故障事件的先验分布。这些分布的超参数可以通过贝叶斯推理从一些模拟样本中学习，接下来，通过考虑这些先验分布，可以同时估计不同角落的系统级故障率。进一步发展了一种迭代约束推理方法，以保证所提出的方法的数值稳定性和合法化所有估计的故障率。数值实验表明，与现有算法相比，该方法在保证精度的前提下，可以减少约10\times $的运行时间.
In this article, we propose an efficient correlated Bayesian inference (CBI) method to estimate the system-level failure rates for large-scale circuit systems over multiple process corners. The key idea is to encode the correlations of circuit performances among the different corners into the prior distributions of several carefully defined failure events. The hyper-parameters of these distributions can be learned from a few simulation samples via Bayesian inference and, next, the system-level failure rates over different corners can be simultaneously estimated by taking into account these prior distributions. An iteratively constrained inference method is further developed to guarantee the numerical stability of the proposed method and legalize all estimated failure rates. The numerical experiments demonstrate that compared to the state-of-the-art algorithm, the proposed method can achieve around $10\times $ runtime reduction without surrendering any accuracy.
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DOI：
10.1109/tcad.2015.2404895
发表时间：
2013-11
期刊：
2013 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD)
影响因子：
--
作者：
Shupeng Sun;Xin Li;Hongzhou Liu;Kangsheng Luo;Ben Gu
通讯作者：
Shupeng Sun;Xin Li;Hongzhou Liu;Kangsheng Luo;Ben Gu
影响因子：
3.7
作者：
T. Burr
通讯作者：
T. Burr
DOI：
10.1145/2966986.2967029
发表时间：
2016-11
期刊：
2016 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD)
影响因子：
--
作者：
Handi Yu;Jun Tao;Changhai Liao;Yangfeng Su;Dian Zhou;Xuan Zeng;Xin Li
通讯作者：
Handi Yu;Jun Tao;Changhai Liao;Yangfeng Su;Dian Zhou;Xuan Zeng;Xin Li
DOI：
10.1109/iccad.2010.5654259
发表时间：
2010-11
期刊：
2010 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD)
影响因子：
--
作者：
Kentarou Katayama;Shiho Hagiwara;Hiroshi Tsutsui;H. Ochi;Takashi Sato
通讯作者：
Kentarou Katayama;Shiho Hagiwara;Hiroshi Tsutsui;H. Ochi;Takashi Sato
DOI：
10.2139/ssrn.3649241
发表时间：
2019-09
期刊：
DecisionSciRN: Heuristics (Sub-Topic)
影响因子：
--
作者：
Todd Davies
通讯作者：
Todd Davies