Work Function and Electronic Structure Measurements on Nitrogen-Doped LaB6 Thin Film by Scanning Tunneling Microscope
Work Function and Electronic Structure Measurements on Nitrogen-Doped LaB6 Thin Film by Scanning Tunneling Microscope
复制标题
扫描隧道显微镜测量氮掺杂 LaB6 薄膜的功函数和电子结构
DOI：
--
复制
发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
and S. Ohmi
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
K. Nagaoka;and S. Ohmi
