S.Kajihara, K.Ishida, K.Miyase: "Average Power Reduction in Scan Testing by Test Vector Modification"IEICE Trans.on Information and Systems. Vol.E85-D, No.10. 1483-1489 (2002)
S.Kajihara, K.Ishida, K.Miyase: "Average Power Reduction in Scan Testing by Test Vector Modification"IEICE Trans.on Information and Systems. Vol.E85-D, No.10. 1483-1489 (2002)
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S.Kajihara、K.Ishida、K.Miyase：“通过测试矢量修改降低扫描测试中的平均功率”IEICE Trans.on 信息和系统。
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