Measurement of Nanometer Electron Beam Sizes Using Laser Interference by Shintake Monitor

Measurement of Nanometer Electron Beam Sizes Using Laser Interference by Shintake Monitor
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Shintake Monitor 利用激光干涉测量纳米电子束尺寸

DOI:
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发表时间:
2015
影响因子:
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通讯作者:
Jacqueline Yan
Jacqueline Yan
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
勝田修平;大橋知佳;中山健一;山田容子;Jacqueline Yan

文献摘要

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